半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷... - 质量管理（一） - 自学考试一点通

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试题题干

半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于

A

可靠性测定试验

B

可靠性鉴定试验

C

可靠性验收实验

D

环境应力筛选试验

参考答案

正确答案：

试题解析

半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于环境应力筛选试验